ITC（IEEE International Test Conference 2010）は，10月31日～11月5日に米国のテキサス州Austinで開催された。
Austinの気温は前回より冷え込んだが，テスト業界の回復の兆しを実感
今年のITC（IEEE International Test Conference 2010）は，10月31日～11月5日に米国のテキサス州Austinで開催された。昨年に引き続いてAustinでの開催だったが，同地の今年の気候が昨年の陽気から一転し…（記事を読む、11/19 02:35）
マイクロプロセサのテストで，IntelとAMD，IBMが競演
米テキサス州Austinで開かれたテスト関連の国際イベント「ITC（International Test Conference）2010」（10月31日～11月5日）において，米Intel Corp.，米Advanced Micro Devices,…（記事を読む、11/15 22:05）
3次元ICのテスト成功の鍵は「コネクト」にあり
TSV接続の3次元ICのテストに焦点を合わせたワークショップ「First IEEE International Workshop on Testing 3-D」を聴講した。このワークショップは，2010年11月4日の午後と5日に，ITC（Intern…（記事を読む、11/15 22:02）
「コンカレント・テストはなぜ普及しないのか」，パネル討論会が開催
コンカレント・テストをテーマにしたパネル討論会「Panel3：Concurrent Test Supported by DFT Techniques and ATE Companies」が，「ITC（International Test Confer…（記事を読む、11/15 21:47）
STIL P1450.4 テスト・プログラム記述言語の標準化が大詰め
米テキサス州Austinで開かれたテスト関連の国際イベント「ITC（International Test Conference）2010」（10月31日～11月5日）において，数年来標準化の検討を続けてきた，テスト記述言語の最新版「IEEE P145…（記事を読む、11/15 21:40）
「まるでゴールド・ラッシュ」，第1回3D-TESTワークショップに聴講者が殺到
3次元積層IC（3D-SIC）のテストに関するワークショップの第1回目「1st IEEE International Workshop on Testing Three-Dimensional Stacked ICs」が，ITC（Internatio…（記事を読む、11/11 21:29）
「何ができて何ができないのか」，オンチップ・センサのパネル討論を聴講
半導体テスト関連の国際イベント「International Test Conference（ITC）2010」が，昨年と同じく米テキサス州Austinのコンベンション・センターで開催された。11月1日の午後には，「How Smart Does Our…（記事を読む、11/11 21:22）
「Industry Test Challenges Meeting」に参加，半導体メーカーのテストの現状を聞く
米テキサス州Austinで開催されたテスト関連の国際イベント「ITC（International Test Conference）2010」に合わせて，「Industry Test Challenges Meeting」と呼ぶ会議が開催された。この会…（記事を読む、11/09 17:27）
