今年のITC（IEEE International Test Conference 2010）は，10月31日～11月5日に米国のテキサス州Austinで開催された(Tech-On!関連ページ1)。昨年に引き続いてAustinでの開催だったが(同2)，同地の今年の気候が昨年の陽気から一転して，気温が冷え込んだ。しかし，ITCの会場では，往時には及ばないものの熱気が戻り，長期的な低迷から回復する兆しを垣間見ることができた。
ITCはテスト技術をテーマにした世界最大の国際会議であり，論文発表をはじめとして種々のイベントを開催しており，世界各国からエンジニアや研究者が多数参加する（図1，図2）。今回は1970年の初回から数えて41回目で，半世紀に向けた最後の10年へと一歩を踏み出した。今年のITCの参加者数は昨年とほぼ同じの約1500名で，長期低落傾向に歯止めがかかった。なお日本からの参加者は約40名と，昨年の30名弱からみると大幅に増加した
採択論文数が50％増加
ITCでは，論文発表の3日間を中心とする約1週間を「ITC Testweek」と呼び，さまざまなイベントを行っている。今年は，10月31日と11月1日の2日間に計10件のチュートリアルが開催されたのを皮切りに，メインとなる11月2日～4日には，25セッション81件の論文発表，6件のレクチャ・シリーズ，4セッションの事例発表，4件のエンベデッド・チュートリアル，5件のパネル討論，16件の企業プレゼンテーション，22件のポスター発表などがあった（図3）。
そして11月4日と5日の2日間の合計で3件の併設ワークショップが開催されて，まさにテスト技術関連の行事が集中した。ITCへの論文投稿数は昨年の200件から239件へと約20％増加。採択論文も55件から81件と50%近く増加して，不況前のITC平均の規模（100件）に近づき，この面でも「底打ち」が感じられた。
ITCの公式行事ではないが，興味深い関連イベントも開催された。例えば11月1日には米University of TexasのAustin校で「Industrial Test Challenges Meeting」(Tech-On!関連記事1)が，11月2日にはITC会場のAustin Convention Centerに隣接するHilton Hotelで米Synopsys, Inc.の「Test Special Interest Group Meeting」がそれぞれ開催された。
