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図2●TetraMAX IIの構成 外部インターフェースは既存品と同じだが、内部のエンジンは刷新した。Synopsysのスライド。
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米Synopsys社は、ICテスト向けのテストパターンを自動生成するソフトウエア（ATPG：Automatic Test Pattern Generator）の新製品「TetraMAX II」を発表した（日本語ニュースリリース1）。既存の「（初代）TetraMAX」と比べてテストパターン生成に必要な処理時間は1/10に削減し、同じ故障検出率で25％規模が小さなテストパターンを生成できるという（図1）。
来日した同社のGal Hasson氏（Sr. Director of Marketing, RTL Synthesis, Test Automation）によれば（写真）、TetraMAX II（以下、新製品）は初代TetraMAX（以下、既存品）と同じ外部インターフェースを備えている。このため既存品と同じ形式でデータを入出力でき、ユーザーは何の違和感もなく新製品に移行可能だという（図2）。
また、既存品と新製品で扱える故障モデルやテストの種類に変化はない。例えば、どちらも、定番の0/1縮退故障はもちろん、遷移故障や微小遅延故障、セル内トランジスタ故障を扱え、消費電力を考慮したテストパターンの生成が可能である。
