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HOMEエレクトロニクス電子設計ITC(International Test Conference)2017 > アナログ試験のアクセスとカバレッジ、IEEEで標準化が始まる

ITC(International Test Conference)2017

アナログ試験のアクセスとカバレッジ、IEEEで標準化が始まる

  • 石田 雅裕=アドバンテスト、ITCプログラム委員、ITCアジア委員会委員長
  • 2017/11/04 22:55
  • 1/1ページ
米国テキサス州フォートワースで開催の「ITC(International Test Conference)2017」(本会議:2017年10月31日~11月2日)のスペシャルセッション6「Emerging IEEE Test Standards」において、アナログ試験のテストアクセスとテストカバレッジに関する標準化活動についての招待講演があった。講師はカナダMentor, a Siemens Business社のStephen Sunter氏で、講演タイトルは「IEEE Analog Test Coverage and Access: A New Study Group for Longstanding Problems」だった。

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