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システム コントロール フェア 2017 / 計測展2017 TOKYO

「SCF/計測展」が開催、「センシングを経営ツールに」

  • 三宅 常之
  • 2017/11/30 12:21
  • 1/1ページ
 オートメーションと計測の先端技術総合展「システム コントロール フェア(SCF)2017 / 計測展2017 TOKYO」(2017年11月29日~12月1日、東京ビッグサイト)が、開催した。計測データを顧客の課題解決につなげる「経営ツール」とする提案が以前にも増して目立ってきた。来場者は、電子回路設計や製造現場の管理に携わる層に加え、経営や設備投資計画に関わる層にまで広がっているようだ。初日の来場者数は前回(2015年開催)よりも20%近く増えた。

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