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セイコーエプソン、半導体の搬送・検査・分類を高スループットで実行できるICテストハンドラーを商品化

  • 大石 基之=日経ものづくり
  • 2013/10/01 17:03
  • 1/1ページ
 セイコーエプソンは、半導体の搬送・検査・分類を高スループットで実行できるICテストハンドラーの3機種「NS8160MS」「NS8080MS」「NS8080SH」の受注を2013年10月1日に開始した。半導体製造の後工程における検査コストを大幅に削減できる。
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