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HOMEエレクトロニクス電子デバイス > 「LSIのテスト開発TATが1/3に短縮」、東芝におけるテスト・データ標準言語「STIL」の適用効果

「LSIのテスト開発TATが1/3に短縮」、東芝におけるテスト・データ標準言語「STIL」の適用効果

  • 小島 郁太郎=Tech-On!
  • 2012/09/24 20:37
  • 1/1ページ
東芝マイクロエレクトロニクスは、LSIテスト関連データ記述言語「STIL:Standard Test Interface Langugae」に関して、「ATEテクノロジーフォーラム」(2012年9月19日にATEサービスが東京で開催)で講演した。テスト・パターンに関する仕様が1999年にIEEE Std. 1450.0として標準化されて以来、現在もSTILは拡張・標準化が続いている。

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