• BPnet
  • ビジネス
  • PC
  • IT
  • テクノロジー
  • 医療
  • 建設・不動産
  • TRENDY
  • WOMAN
  • ショッピング
  • 転職
  • ナショジオ
  • 日経電子版

HOMEエレクトロニクス電子デバイス > 【セミコン・プレビュー】省/創エネ・デバイス向け検査装置、レーザーテックが3装置を製品化

【セミコン・プレビュー】省/創エネ・デバイス向け検査装置、レーザーテックが3装置を製品化

  • 長廣 恭明=Tech-On!
  • 2011/11/22 14:38
  • 1/1ページ
近年、省エネルギーや創エネルギーへの関心が高まっており、このために窒化ガリウム(GaN)デバイスや炭化シリコン(SiC)デバイス、太陽電池に対する技術開発の加速や量産化、性能向上などに向けた取り組みが急激に進んでいる。これに向けた検査装置3機種を、レーザーテックが製品化した。GaNなどの透明ウエハー向け欠陥検査装置「WASAVIシリーズTROIS33」、SiCウエハー向け欠陥検査装置「WASAVIシリーズSICA6X」、太陽電池向け分光感度分布測定装置「MAPシリーズ SR-MAP」である。前者2装置は「Semicon Japan 2011」に、後者1装置は「PV Japan2011」(いずれも2011年12月7~9日、幕張メッセ)に出展する予定。いずれも2011年12月に受注を開始する。
【技術者塾】(5/26開催)
シミュレーション要らずの熱設計・熱対策

~熱を電気回路に見立てて解析、演習で応用力アップ~


本講演を受講すると、シミュレーションに頼らない実践的な熱対策・熱設計ができるようになります。演習を通して実際に熱を解析し、熱設計への理解を深められます。現場で応用できる熱解析ツールを自分で作成できるようになります。 詳細は、こちら
日程 : 2016年5月26日
会場 : 化学会館 7F(東京・御茶ノ水)
主催 : 日経エレクトロニクス

おすすめ