大日本スクリーン製造と岐阜大学は,薄膜Si型太陽電池を構成するアモルファスSi膜の膜特性を非破壊で解析できる技術を開発した。2010年秋にも,大日本スクリーン製造の分光エリプソ式膜厚測定装置「RE-8000」シリーズのオプションとして実用化する。
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