ドイツのドレスデンで開催中の「DATE10(Design, Automation and Test in Europe 2010)」で,システムやLSIの信頼性や回復性に関する新たな試みをテーマにしたセッション(セッション8.2)があった。そのセッションで,米Intel Corp.の研究所(Intel Labs. Intel Future Technology Research)は,「Design Techniques for Cross-Layer Resilience」というタイトルで招待講演した。
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