【nano tech】産総研，Geナノドット使った次世代の質量分析法を開発
2006.02.22
【図2】Si基板上に形成したGeナノドット。中央部に色が変化している部分にGeナノドットが形成されている
カーソルキー（←／→）でも操作できます
閉じる
