LSIのテストが加速度的に難しくなっている。プロセス微細化で,(1)LSIに集積できる回路規模が増大していることや,(2)高抵抗断線や酸化膜欠陥,遅延欠陥などテストでチェックすべき項目が増えていることが,背景にある。しかも,LSIテスターへの投資は基本的に増えない。このため,DFT(design for testability)技術の適用が必須となる。ルネサス テクノロジーは,LSIのロジック・ブロックに対して,3種のDFT技術を使い分けていることなどを講演で明らかにした。
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