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日経エレクトロニクス 2014年7月21日号

講座

大電流USB充電で不具合、3つの対策で安全に

  • 大原 稔=アリオン 代表取締役社長
  • 2014/07/31 00:00
  • 1/11ページ

出典:日経エレクトロニクス、2014年7月21日号、pp.69-78(記事は執筆時の情報に基づいており、現在では異なる場合があります)

スマートフォンやデジタルカメラなどの携帯機器を中心に、USBを利用して内蔵2次電池を充電することが一般的になっている。便利なUSB充電だが、中には電流値がUSB規格を上回るものもあり、不具合の原因にもなっている。さまざまな機器間インターフェースの認証試験を手掛けている著者に、不具合事例とその対策を解説してもらう。(本誌)

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