米Tektronix，Inc.によるTDR（time domain reflectometry）とTDT（time domain transmission）を用いた伝送路計測手法に関する解説の第2回である。今回は，測定時に留意すべき点や伝送路に応じたモデリング手法について解説してもらう。（伊藤　大貴＝本誌）

Eugene Mayevskiy
米Tektronix，Inc.，Electro Optical Product Line，Application Engineer
小川　哲生
日本テクトロニクス　営業統括本部　営業技術統括部
ADSC　シニア・アプリケーション・エンジニア
薩摩　泰文
日本テクトロニクス　営業統括本部 営業技術統括部　AE部
アプリケーション・エンジニア