ITC(International Test Conference)はエレクトロニクスのテストに関連した国際イベントである。ITCには学会や展示会をはじめ、さまざまな催しがあり、1週間続く。その週を「TestWeek」と呼んでいる。45回目となる「ITC 2014」は、2014年10月19日から24日まで米国ワシントン州シアトルで開催される。(ITC 公式サイト)
ITC(International Test Conference)2014
2014年10月19~24日、米国ワシントン州シアトル
目次
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シアトルの雨ニモ負ケズ、International Test Conferenceの第45回記念大会(総集編)
ITC(International Test Conference) 2014が、2014年10月19日~24日に米国ワシントン州シアトルで開催された。シアトルでは初めての開催となる。昨年までの好天続きのアナハイムからは一転、外は雨の降りしきる、あいにくの天気だった。第45回の記念となる今回のITC…
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セキュアーチップに対する秘匿性とテスト容易性に関して議論
「ITC(International Test Conference)2014」(米ワシントン州シアトルで2014年10月19日~24日に開催)のセッション28「Attacks and Countermeasures for Secure Chips」では、スキャンを用いたテストのしやすさと、それに…
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ウエハー内ばらつき分布を曲線近似して、テストコストを抑える
「ITC(International Test Conference)2014」(米ワシントン州シアトルで2014年10月19日~24日に開催)のセッション19「Statistical Approaches to AMS Design and Test」では、セッション18と同様に、ばらつきのウエハ…
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テストでもビッグデータ活用がホット、学会でも展示会でも
「ITC(International Test Conference)2014」(米ワシントン州シアトルで2014年10月19日~24日に開催)では、ビッグデータが大きな話題の1つだった。例えば、学会ではセッション18「Big Data: Big Problem or Opportunity for…
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チップばらつき測定と量産歩留まり予測を高精度・短時間に実行する手法、TIとTexas大が開発
「ITC(International Test Conference)2014」(米ワシントン州シアトルで2014年10月19日~24日に開催)のセッション18「Big Data: Big Problem or Opportunity for Test?」では、ばらつきのウエハー内分布測定に関する興…
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安価な装置でA-D変換器のテストが可能、STARCと群馬大学が提案
「ITC(International Test Conference)2014」(米ワシントン州シアトルで2014年10月19日~24日に開催)のセッション10「"Fool" Nyquist, Fix Nonlinearity, Tolerate Jitter」では、アナログテスト技術に関する論文発…
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アドバンテストやQualcomm、Infineon、量産テスト向け技術でそれぞれ講演
「ITC(International Test Conference)2014」(米ワシントン州シアトルで2014年10月19日~24日に開催)のセッション8「Learn From The Experts: High Volume Manufacturing」では、量産テスト技術に関する論文発表が企…
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スキャンチェーンの分割で、テスト時間の短縮とコード化成功率の向上を同時に達成する技術
「ITC(International Test Conference)2014」(米ワシントン州シアトルで2014年10月19日~24日に開催)では、EDAベンダーだけではなく、大学からもテスト圧縮や組み込み自己テスト(BIST)に関して講演があった。EDAベンダー各社の講演とは一味違った研究として…
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テストの「巨人」たちから提言、1.5時間の特別パネルで300名が感銘
「ITC(International Test Conference)2014」(米ワシントン州シアトルで2014年10月19日~24日に開催)では、例年とは異なり全体セッションとしての特別パネルが設けられた。タイトルは「巨人たちの知恵」。テスト分野を代表する7名の「巨人」がパネリストとなったパネル…
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社内の悪しき因習をテストのビックデータで打破、AMD社が講演
「ITC(International Test Conference)2014」(米ワシントン州シアトルで2014年10月19日~24日に開催)のイスラエルOptimal Plus社(ITC 2014のDiamond Supporter)の企業フォーラムで、米Advanced Micro Devic…
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車載IC内に設けたパスコンのオープン故障のテストに挑む、KU LeuvenとON Semiが発表
ミックストシグナルICの増加を受けてか、米ワシントン州シアトルで開催の「ITC(International Test Conference)2014」(2014年10月19日~24日)では、アナログ回路やRF回路、電源回路のテスト技術で複数の興味深い発表があった。それぞれで、1~2件ずつを以下に紹介…
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アドバンテスト、テスト時の電源品質を制御する技術の効果を実証
米国ワシントン州シアトルで開催の「ITC(International Test Conference)2014」(2014年10月19日~24日)で、アドバンテストが、電源品質制御技術を実デバイスのテストに適用した際の効果を発表した。この発表は、セッション8(Lesson From The Expe…
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A-D変換器の線形性と周波数特性を高速同時するテスト技術、Iowa州立大学が提案
A-D変換器は、ミッストシグナルSoCのキーコンポーネントであり、単体ICとしても重要である。そのテスト技術の研究開発はすでに何十年も続けられてきたが、現在も新しい成果が続々と生まれている。
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Internet of thingsでMEMS試験が再び話題に
米国ワシントン州シアトルで開催の「ITC(International Test Conference)2014」(2014年10月19日~24日)の本会議2日目(10月22日)のセッション 13において、MEMSデバイスの試験における課題が議論された。MEMSデバイスの試験については、1990年代後…
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産学共著の論文は、ITCでの採択率が高いのか
米ワシントン州シアトルで開催の「ITC(International Test Conference)2014」(2014年10月19日~24日)の本会議1日目(10月21日)のPlenary セッションにおいて、採択論文の統計情報が報告された。今年のITCでは、75名のProgram Committ…
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テスト圧縮技術の進化は止まらない、今年もEDA大手3社が揃い踏みで講演
米国ワシントン州シアトルで開催中の「ITC(International Test Conference)2014」(2014年10月19日~10月24日)では、昨年に引き続き、EDA大手ベンダー3社がテスト圧縮に関して講演した。大規模化と低電力化への対応には各社が力を入れており、今後のテスト圧縮技術…
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アナログ回路の故障モデルは本当に必要なのか
米国ワシントン州シアトルで開催中の、エレクトロニクスのテストに関連した国際イベント「ITC(International Test Conference)2014」(2014年10月19日~24日)。そのセッション2はアナログのテストをテーマにしていた。セッションタイトルはModeling and M…
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あなたのICにトロイの木馬が埋め込まれていませんか、IC開発のセキュリティ確保でチュートリアル
SoC開発がグローバル化して、開発時のセキュリテイ確保が課題になってきた。設計の複雑さ、早期の市場投入のプレッシャーからSoC開発者は、各国・地域のベンダーで開発されたIPコア回路を購入し、それらをもとにSoCを設計し、ファンドリに製造を委託するという開発の流れが一般化している。
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アナログ回路でのテスト設計、現実にはどうしているのか
米国ワシントン州シアトルで開催の「ITC(International Test Conference)2014」の本会議が開幕した。ITC 2014は第45回目の節目となる。一般論文セッションの始まる前日(10/20)の夜には、例年どおりマンデーパネルが設置された。今年のテーマは、アナログ回路でのテ…
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テスト技術への挑戦は続く-併設イベントでアダプティブテストがメインテーマに
米国ワシントン州シアトルで開催の「ITC(International Test Conference)2014」(2014年10月19日~24日)の併設イベントとして、今年も「Industry Test Challenges Meeting」が開催された。多数の企業からの先端事例紹介を含め、10件の…