高速シリアルIOデバイスのテストで、最も重要で効果的かつ最も困難なのが受信機のジッタ耐力テストである。テストの国際会議「ITC(International Test Conference)」では、早くも2002年のITC 2002において、ジッタ耐力テストに向けた高速テスト技術がアドバンテスト研究所と米Agere Systems社の共著論文として発表されている。タイトルは、「A New Method for Testing Jitter Tolerance of SerDes Devices Using Sinusoidal Jitter」(論文番号25.3)で、測定器と外部ループバックを組み合わるテスト手法である。
この記事は会員登録で続きをご覧いただけます
-
会員の方はこちら
ログイン -
登録するとマイページが使えます
今すぐ会員登録(無料)
日経クロステック登録会員になると…
・新着が分かるメールマガジンが届く
・キーワード登録、連載フォローが便利
さらに、有料会員に申し込むとすべての記事が読み放題に!
春割キャンペーン実施中!
>>詳しくは
日経クロステックからのお薦め
日経BP 総合研究所がお話を承ります。ESG/SDGs対応から調査、情報開示まで、お気軽にお問い合わせください。
ブランド強化、認知度向上、エンゲージメント強化、社内啓蒙、新規事業創出…。各種の戦略・施策立案をご支援します。詳細は下のリンクから。
「デジタル&ソリューション」をキーワードに、多様な事業を展開しています。
日経BPは、デジタル部門や編集職、営業職・販売職でキャリア採用を実施しています。デジタル部門では、データ活用、Webシステムの開発・運用、決済システムのエンジニアを募集中。詳細は下のリンクからご覧下さい。