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HOMEエレクトロニクス電子設計ITC(International Test Conference)2013 > 【ITC 2013】IBM、Intel、ARMがオンチップ・モニター技術をそれぞれ披露

ITC(International Test Conference)2013

【ITC 2013】IBM、Intel、ARMがオンチップ・モニター技術をそれぞれ披露

  • 畠山 一実=奈良先端科学技術大学院大学,ITCアジア委員会、VTS実行委員会
  • 2013/09/19 13:43
  • 1/1ページ
「ITC(International Test Conference)2013」(米カリフォルニア州アナハイムで2013年9月10日-12日に開催)では、企業事例(Advanced Industrial Practices)のセッションが昨年の4件から6件に増加した。オンチップ・モニターに関するセッション「AIP2:On-Chip Monitoring and Sensing」では,米IBM社、米Intel社、英ARM社という、半導体業界を代表する3社がオンチップ・モニターに対する取り組みを発表し、100名を超える聴衆を集めた。
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