• BPnet
  • ビジネス
  • IT
  • テクノロジー
  • 医療
  • 建設・不動産
  • TRENDY
  • WOMAN
  • ショッピング
  • 転職
  • ナショジオ
  • 日経電子版

HOMEエレクトロニクス電子設計ITC(International Test Conference)2013 > 【ITC 2013】IBM、Intel、ARMがオンチップ・モニター技術をそれぞれ披露

ITC(International Test Conference)2013

【ITC 2013】IBM、Intel、ARMがオンチップ・モニター技術をそれぞれ披露

  • 畠山 一実=奈良先端科学技術大学院大学,ITCアジア委員会、VTS実行委員会
  • 2013/09/19 13:43
  • 1/1ページ
「ITC(International Test Conference)2013」(米カリフォルニア州アナハイムで2013年9月10日-12日に開催)では、企業事例(Advanced Industrial Practices)のセッションが昨年の4件から6件に増加した。オンチップ・モニターに関するセッション「AIP2:On-Chip Monitoring and Sensing」では,米IBM社、米Intel社、英ARM社という、半導体業界を代表する3社がオンチップ・モニターに対する取り組みを発表し、100名を超える聴衆を集めた。
【技術者塾】
「1日でマスター、実践的アナログ回路設計」(2016年8月30日(木))


コツを理解すれば、アナログ回路設計は決して難しくはありません。本講義ではオペアンプ回路設計の基本からはじめて、受動部品とアナログスイッチや基準電圧などの周辺回路部品について学びます。アナログ回路設計(使いこなし技術)のコツや勘所を実践的に、かつ分かりやすく解説いたします。。詳細は、こちら
日時:2016年8月30日(火)10:00~17:00
会場:エッサム神田ホール(東京・神田)
主催:日経エレクトロニクス

おすすめ ↓スクロールすると、関連記事が読めます↓