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HOMEエレクトロニクス電子デバイスITC(International Test Conference)2012 > 【ITC 2012】A-D変換器のスペクトラム・テストを低コストで行う手法、Iowa State大が提案

ITC(International Test Conference)2012

【ITC 2012】A-D変換器のスペクトラム・テストを低コストで行う手法、Iowa State大が提案

  • 大河原秀雄=アドバンテスト
  • 2012/11/15 19:50
  • 1/1ページ
 A-D変換器のスペクトラム・テストを低コストで行う手法を、米Iowa State Universityが、「ITC(International Test Conference) 2012」(2012年11月4日~9日に米国で開催)のポスター・セッションで提案した。タイトルは「A Low-Cost Spectral Testing Method for Analog-to-Digital Converters with Amplitude Clipping and Noncoherent Sampling」(ポスター番号PO19)である。
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