IECの技術仕様書や検知手法を紹介
（出所：日経BP）
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太陽光パネルや電子部品の評価などを手掛けるケミトックス（東京都大田区）は12月10日、「IEC TS 62804-1：PID検知方法の徹底解説」と題するセミナーを開催した。
PID（potential-induced degradation）は、特定の条件において、太陽光パネルに高い電圧がかかり、出力が大幅に低下する現象。太陽光パネル内のセル（発電素子）とアルミ製フレーム間に、電位差が生じることで生じる。高温・高湿、システム電圧などの条件が影響して生じるとされている。
太陽光パネルに生じたPIDの検知方法の規格化を模索する動きがある。今回は、IEC（国際電気標準会議）が「技術仕様書（TS：Technical Specification）」として、「IEC TS 62804-1」を発行したことを受け、その概要や有効な検知方法を周知するため、セミナーを開催したという。
ケミトックスは、2010年に太陽光パネルの信頼性などの評価試験サービスを開始し、これまでに1600件以上の試験を実施してきた。PIDに対応した試験を国内でいち早く始めたことで知られ、2012年以降、国内外のメーカー製のパネルを400件以上試験した実績がある。
セミナーでは、IEC TS 62804-1の解説を中心に、PIDに関するこれまでの経緯や現状、その他の一般的な太陽光パネルの不具合事例やその対策などが紹介された。
ケミトックスによると、PIDへの対応力の低い太陽光パネルでは、1年間で70％以上も出力が低下することもあるという。また、特定の環境で生じる現象ではなく、日本国内でも、各地で発生している例があるとしている。
同社では、1月13日にも、同内容のセミナーを開催する。
