中央大学 理工学部 教授の竹内健氏の研究グループは、3次元(3D)NANDフラッシュメモリーのさらなる大容量化を可能にする技術を開発した。大容量で低コストな3D NANDフラッシュメモリーではシリコン基板に対して垂直方向への電荷の移動がメモリーセルの信頼性を劣化させることを明らかにし、その改善手法として、電荷移動を抑制する「Vth Nearing」を提案した。この手法を用いることにより、データ保持中のメモリーのエラーを40%削減し、メモリーのデータ保持時間を2.8倍に延ばすことに成功した。
この記事は有料会員限定です
日経クロステックからのお薦め
日経BP 総合研究所がお話を承ります。ESG/SDGs対応から調査、情報開示まで、お気軽にお問い合わせください。
ブランド強化、認知度向上、エンゲージメント強化、社内啓蒙、新規事業創出…。各種の戦略・施策立案をご支援します。詳細は下のリンクから。
「デジタル&ソリューション」をキーワードに、多様な事業を展開しています。
日経BPは、デジタル部門や編集職、営業職・販売職でキャリア採用を実施しています。デジタル部門では、データ活用、Webシステムの開発・運用、決済システムのエンジニアを募集中。詳細は下のリンクからご覧下さい。