「International Test Conference 2016」（米テキサス州フォートワースで2016年11月13日～18日に開催）の本会議が終了した後に１時間の休憩をはさんで、 併設ワークショップ「First IEEE International Workshop on Automotive Reliability & Test – ART Workshop」が始まった。2016年11月17日（木）16時開始で、翌18日（金）16時に終了した。

　ARTでは、車載IC関係のテスト技術、故障率・不良率、信頼性（reliability, dependability）、けんろう性（robustness）、歩留まり、経年劣化（aging）/寿命（life time）、診断、セキュリテイー（security）、機能安全性（safety）等に関して議論した。基調講演が2件、パネル討論会が1件、一般論文・講演発表が22件行われた。一般論文の投稿は24件で、うち22件が採択されおり（口頭発表17件、ポスター5件）、論文採択を競う場ではなく、様々な技術を自由な雰囲気で発表・議論する場との印象を受けた。

　投稿内訳は、企業から13件、産学共同で6件、大学から5件と、企業からの発表が多かった。産業界からの発表は半導体メーカーとEDAベンダーが中心で、自動車メーカーは2～3件で共著になっている程度である。地域別では米国からは8件にとどまり、欧州からが多い印象をもった。なお日本からはルネサス システムデザインと群馬大学からの合計２件である。参加者は150名前後で、ITC後のワークショップとしては非常に多く、この分野への関心が高いことがわかる。なお、ITCの本会議でも車載ICテスト関係のセッションや、発表がいくつもあった。