米国テキサス州フォートワースで開催の「ITC（International Test Conference）2016」（2016年11月13日～18日）では、テストコストをテーマにしたパネル討論会があった。Panel 3「Test Cost Reduction —Is There More to Cut?」がそれで、テストコストの削減の可能性について議論した。

　同パネルは、テストコストの定義で始まった。そして，アナログ回路とデジタル回路のテストコスト比率や、ICテストはどのように世界の人々を幸せにするかまで，様々な観点からテストコスト削減の可能性に関する議論が行われた。モデレーターは群馬大学教授の小林春夫氏が務めた。パネリストには，半導体関連5社からそれぞれテスト技術開発の責任者が登壇した。各パネリストのポジショントークの主な内容は以下の通り。

ベルギーON Semiconductor社のW.Dobberlaere氏

  • ・ミックスト・シグナル・テストの構造テスト化によるコスト削減が急務。
  • ・そのためには賢明なDFTと自動化ツールが必要。

オランダNXP Semiconductors社のR. van Rijsinge氏

  • ・テストコスト（生産テストコスト＋DFTのシリコンコスト＋開発コスト）の最適化が必要。
  • ・特に生産コストが支配的であり，その改善にはテスト時間削減，テスト安定化，操作性改善などが必要。

独ams社のP. Sarson氏

  • ・テストコスト削減の余地はいっぱいある。特に設計がマージナルな場合は余地が大きい。
  • ・やるべきこともいっぱいある。高度な多数個同測，アナログBIST/BOST/DFT，欠陥ベーステスト，などなど。

米Advantest社のB. Barlett氏

  • ・分り切ったこと。究極はタダにすること。テスト回数の削減も必要。
  • ・ATEコスト戦略としては，スループット向上，並列性向上，ATE拡張，技術的差別化などがある。

米Cadence Design Systems社のR. Knoth氏

  • ・誰でもテストコスト削減は可能。だが，それが本当にやるべきことか？コストと品質の両方を考慮すべき。
  • ・アナログは自動化が重要。ディジタルも改善の余地あり（最小のインパクトで最高の品質を目指すべき）。
  • ・テストはスーパーヒーローである。なぜなら生命を救い世界をより良いものにするから。