ITC(International Test Conference)はエレクトロニクスのテストに関連した国際イベントである。ITCには学会や展示会をはじめ、さまざまな催しがあり、1週間続く。その週を「TestWeek」と呼んでいる。46回目となる「ITC 2015」は、2015年10月4日から9日まで米国カリフォルニア州アナハイムで開催される。(ITC公式サイト)
ITC(International Test Conference)2015
目次
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【総集編】アナハイムの暑さに負けず劣らず、ITCは今年も熱かった
2015年のITC(International Test Conference)は、10月4日~9日に米国カリフォルニア州アナハイムで開催された。アナハイムでの開催は一昨年に続いて4回目。昨年の雨が降りしきるシアトルとは対照的に、今回もアナハイムは晴天続きだった。ディズニーランド開園60年に沸くディ…
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半導体ロードマップのITRSが生まれ変わったようだ
基本指針が基調講演で語られた
ITRS(International Technology Roadmap for Semiconductors)の編集に携わってきた米University of California, San Diego教授のAndrew KahngKahng氏が、生まれ変わったITRS 2.0について「ITC(…
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微細プロセスでのテスト品質を確保、「セル考慮テスト」でパネル討論会
微細プロセスでのテスト品質を確保するための切り札として、「セル考慮テスト」への期待が高まっている。セル考慮テストとは、セル内の欠陥に起因する故障を考慮したテストである。
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TSMC、機械学習をWLCSPの欠陥診断に活用
米国カリフォルニア州アナハイムで開催の「ITC(International Test Conference) 2015」(10月6日~8日)では、テストビッグデータ活用が注目トピックだった。論文発表や、パネル、ワークショップ、展示会と様々な場面で、テストビッグデータ活用が話題を集めていた。
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RFフェーズドアレーのBIST技術、Arizona State大が提案
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QAM変調信号の機能試験をリアルタイムで、アドバンテストが新技術
アドバンテストは、米国カリフォルニア州アナハイムで開催の「ITC(International Test Conference) 2015」(10月6日~8日)のセッション7「ATE」において、デジタル変調信号のリアルタイム試験技術を発表した。ATE(自動テスト装置)のデジタルチャンネルでQAMデジタ…
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自分でも実験したくなった、ポスター発表に興味深い技術
筆者の興味は、ATE(Automatic Test Equipment)アプリケーションのテスト技術にある。この意味では「ITC(International Test Conference) 2015」(10月6日~8日に米国カリフォルニア州アナハイムで開催)のテクニカルセッション(口頭発表)の中に…
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本当にホットなトピックはこれ、「採択と招待」で講演を分析
米国カリフォルニア州アナハイムで開催の「ITC(International Test Conference)2015」(2015年10月6日~8日)の本会議が開催された。プログラムをもとに、講演の傾向を分析した結果について、私見を述べる。
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先端スキャンテストのセッション、Mentor 1社が全3講演を"独占"
米国カリフォルニア州アナハイムで開催の「ITC(International Test Conference) 2015」(10月6日~8日)のセッション2「Advanced Scan Testing」では、3件の講演全部が米Mentor Graphics社に関連していた。同社のこの分野における活発な…
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アドバンテスト、微小アパーチャージッターを高精度測定する技術を開発
アドバンテストは、米国カリフォルニア州アナハイムで開催の「ITC(International Test Conference) 2015」(10月6日~8日)のセッション3「Analog/Mixed-Signal 1」において、A-D変換器のアパーチャージッター測定技術を発表した。タイトルは「A N…
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ルネサス、車載マイコンに適用中のテスト技術を披露
米国カリフォルニア州アナハイムで開催の「ITC(International Test Conference) 2015」に併設の展示会(10月6日~8日)では、米Mentor Graphics社ブースで行われていたプレゼンテーションが人気だった。その中でも注目されたのが、ルネサス システムデザインの…
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来年のITC 2016、Asian Test Symposiumの1週間前
米国カリフォルニア州アナハイムで開催の「ITC(International Test Conference) 2015」(2015年10月6日~8日)の本会議1日目のプレナリーセッションにおいて、米University of California教授のLi-C. Wang氏がITC2016の論文投稿…
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Mentor、アナログ故障シミュレーションで招待講演
米国カリフォルニア州アナハイムで開催の「ITC(International Test Conference)2015」(2015年10月6日~8日)のセッション3「Analog/Mixed-Signal 1」に米Mentor Graphics社のS. Sunter氏が登壇して、アナログ故障シミュレー…
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脳模倣計算と機械学習がSoCに影響、Qualcommが基調講演
米国カリフォルニア州アナハイムで開催の「ITC(International Test Conference)2015」(2015年10月6日~8日)の1日目のプレナリーセッションにおいて、米Qualcomm社のKarim Arabi氏(Vice President、Engineering)氏が基調講…
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ATEのデジタルチャンネルを使う波形観測技術、日本のATEサービスが発表
米国カリフォルニア州アナハイムで開催の「ITC(International Test Conference)2015」(2015年10月6日~8日)のセッション7「ATE」において,ATEサービス(本社:東京都)の大河原秀雄氏が登壇し、半導体テストシステム(ATE:Automatic Test Eq…
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MediaTekはこうしてテストに取り組む、最新の企業事例を併催行事で聞いた
米国カリフォルニア州アナハイムで開催の「ITC(International Test Conference) 2015」(10月9日まで)の併設イベントとして、今年も「Industry Test Challenges Meeting」が開催された。企業から先端事例に関する8件の講演があった。
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JTAGバウンダリスキャン(IEEE 1149.1)は臨終か
恒例のマンデーパネルでITCの本会議が開幕
米国カリフォルニア州アナハイムで開催の「ITC(International Test Conference)2015」では、通常の論文セッションの始まる前日(2015年10月5日)の夜、例年どおりマンデーパネルが設置され、第46回目となる本会議が開幕した。