米国カリフォルニア州アナハイムで開催の「ITC(International Test Conference)2015」(2015年10月6日~8日)のセッション7「ATE」において,ATEサービス(本社:東京都)の大河原秀雄氏が登壇し、半導体テストシステム(ATE:Automatic Test Equipment)のデジタルチャンネルで高速デジタルインターフェース信号のアイパターンを測定する技術について発表した。講演タイトルは「eRNA:Refining of Reconstructed Digital Waveform」(講演番号7.1)である。
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