米国カリフォルニア州アナハイムで開催の「ITC（International Test Conference）2015」では、通常の論文セッションの始まる前日（2015年10月5日）の夜、例年どおりマンデーパネルが設置され、第46回目となる本会議が開幕した。

　JTAG（Joint Test Action Group）方式のバウンダリスキャン（IEEE 1149.1）は、プリント回基板組み立て工程における製造不良（部品実装不良など）の検出を容易化するための手段として、1990年に標準化された。その後、IC内部など、適用分野の拡大に対応する形で、2013年に拡張が行なわれて「IEEE 11149.1-2013」となった。

　JTAGバウンダリスキャンには派生の規格も複数生まれた。例えば、チップ内のIPコアへのアクセス方式に関する規格として、2014年にIJTAG（IEEE 1687）が標準化された。これを利用することによって、チップ外部からのアクセス方式に依存しないで、内部IPコアをテストアクセスする検討が進んでいる。

　このような状況を背景に、多少過激なタイトル「Is IEEE 1149.1 on Its Death Bed？」のパネルが設けられたようだ。参加者は150名以上と例年どおりの盛況であり、JTAG方式の今後の行方を中心にしてさまざまな議論が交わされた。

■変更履歴
この記事の掲載当初、このページの本文（要点除く）の第1段落で「プリント基板のインサーキットテストにおけるDUT（Device Under Test）のアクセスを確保する手段として」としていたのは「プリント回基板組み立て工程における製造不良（部品実装不良など）の検出を容易化するための手段として、」の誤りでした。お詫びして訂正します。本文は修正済みです。