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HOMEシステム コントロール フェア(SCF)2017 / 計測展2017 TOKYOシステム コントロール フェア 2017 / 計測展2017 TOKYO > 5日を1時間に、微生物汚染の検査時間を短縮

システム コントロール フェア 2017 / 計測展2017 TOKYO

5日を1時間に、微生物汚染の検査時間を短縮

  • 三宅 常之
  • 2017/11/30 19:25
  • 1/1ページ
 横河電機は、食品が悪性の微生物に汚染されていないことを出荷前に確認するまでの時間を大幅に短縮するシステムを開発し、オートメーションと計測の先端技術総合展「システム コントロール フェア(SCF)2017 / 計測展2017 TOKYO」(2017年11月29日~12月1日、東京ビッグサイト)に展示した。

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