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システム コントロール フェア 2017 / 計測展2017 TOKYO

1度の撮影で複数の欠陥を検出

オムロン、半導体の官能検査を自動化する装置

  • 松田 千穂
  • 2017/11/30 16:52
  • 1/1ページ
 オムロンは、人手による官能検査を自動化できる画像検査装置を「SCF2017」(2017年11月29日〜12月1日、東京ビッグサイト)に出展した。照明やカメラ、レンズ、PLC(Programmable Logic Controller)、画像処理システムといった同社の技術を組み合わせて装置化したもので、半導体やフレキシブルプリント基板などの検査に向く。2018年春に発売する予定だ。

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