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パワーデバイスを安心・安全に使う勘所

組み合わせ回路のテストパターンってどう探すの?

半導体テスト技術者検定2級問題【設計と製造4】

  • パワーデバイス・イネーブリング協会
  • 2017/12/08 05:00
  • 1/3ページ

 今回もパワーデバイス・イネーブリング協会(PDEA)が主催する「半導体テスト技術者検定2級」の「設計製造」分野の問題を紹介する。(本コラムの詳細はこちら、PDEAについてはこちら、半導体テスト技術者検定の教科書についてはこちら、検定の問題集についてはこちら)。

 今回紹介するのは、論理回路のテスト生成に関する問題である。論理回路に対するテストパターン設計で最も基本となるのが組み合わせ回路の縮退故障に対するテストパターン生成。設計技術やプロセス技術の進化とともに故障モデルの多様化が進んでいるが、テストパターン生成の基本としての位置付けは不変である。

 今回の問題の難易度は★★★(本コラムでは紹介する問題の難易度を★の数(難易度に応じて1~5個)で表しており、★の数が多いほど難しい)。設計分野の方には比較的易しい問題だが、製造分野の方には多少難しいかもしれない。よく考えてしっかりと正解してほしい。また、解説も参考にして理解を深めてほしい。

【2級 設計製造】【問題4】難易度:★★★

 次の図の組み合わせ回路における信号線dの0縮退故障を検出するテストパターンとして、以下の中から正しいものを選びなさい。

  • (1) a=1, b=1, c=0
  • (2) a=0, b=1, c=1
  • (3) a=1, b=1, c=1
  • (4) a=0, b=0, c=1

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