今回出題するのは、論理回路の「スキャン試験」に関する問題だ。半導体デバイス内の論理回路に対しては、その機能（論理動作）を確認するファンクション試験が必要である。その際、入力データとして”0”と”1”から成るパターンデータを用意する必要があるが、論理回路の大規模化とともに、十分な品質のパターンデータをその機能に基づいて作成することは困難になってきた。そこで、現在では、論理回路をその構造に基づいて網羅的にテストする「構造的テスト」が広く用いられており、「スキャン試験」はその中心となる存在である。
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