今回は、パワーデバイス・イネーブリング協会（PDEA）が主催する「半導体テスト技術者検定」の過去問題を紹介する（本コラムの詳細はこちら、PDEAについてはこちら）。

　今回出題するのは、論理回路の「スキャン試験」に関する問題だ。半導体デバイス内の論理回路に対しては、その機能（論理動作）を確認するファンクション試験が必要である。その際、入力データとして”0”と”1”から成るパターンデータを用意する必要があるが、論理回路の大規模化とともに、十分な品質のパターンデータをその機能に基づいて作成することは困難になってきた。そこで、現在では、論理回路をその構造に基づいて網羅的にテストする「構造的テスト」が広く用いられており、「スキャン試験」はその中心となる存在である。

　今回の問題は検定での正答率が63％で、難易度は★★★（本コラムでは紹介する問題の難易度を★の数（難易度に応じて1～5個）で表しており、★の数が多いほど難しい）。出題側としては、このあたりはぜひ正解していただきたい問題である。正解に加えて解説も示しているので、しっかり読んで理解を深めていただきたい。

【問題4】難易度：★★★

　次の文章の空欄（）に入る正しい言葉の組み合わせを(1)～(4)の中から選びなさい。

スキャン試験とは、被測定デバイス内の論理回路のすべての(　ア　)を直列に接続し、(　イ　)として動作させることで、順序回路を等価的に(　ウ　)と考えてテストを簡単化するテスト容易化手法である。

　(1)　ア：フリップフロップ、イ：シフトレジスタ、ウ：組み合わせ回路

　(2)　ア：フリップフロップ、イ：加算回路、ウ：組み合わせ回路

　(3)　ア：入力端子、イ：加算回路、ウ：ドミノ回路

　(4)　ア：入力端子、イ：シフトレジスタ、ウ：ドミノ回路