本コラムの第1回と同じく、今回はパワーデバイス・イネーブリング協会（PDEA）が主催する「半導体テスト技術者検定」の問題を紹介する（本コラムの詳細はこちら、PEDAについてはこちら）。今回は新作問題である。
今回紹介するのは、テスト自体の品質に関する問題である。テストは半導体デバイスの品質保証において重要な役割を果たしているが、テスト自体の品質が高くなければ半導体デバイスの品質やコストに重大な影響を及ぼす。今回の問題に登場する「オーバーキル」はこのテスト自体の品質に関する重要な概念の1つだ。
本コラムにて紹介する問題は、難易度を★の数で表している。★は1～5個で、★の数が多いほど難しくなる。今回の難易度は★★★。問題だけでなく正解とその解説も示しているので、仮に正答できなかった場合には解説を参考に新たな知識として吸収していただきたい。
【問題2】難易度：★★★
製造した半導体デバイスの電気的特性や機能を確認する試験における「過剰なテスト(overkill)」を説明した記述はどれか、(1)～(4)の中から選びなさい。
(1) デバイスの試験において、誤って良品を不良品と判断すること
(2) デバイスの試験において、誤って不良品を良品と判断すること
(3) デバイスを恒温槽に入れ、温度ストレスを加えながら行う試験のこと
(4) 信頼性の限界を把握するため、通常動作より高い周波数で行う試験のこと
