パワーデバイスを安心・安全に使うための勘所を紹介する本連載の第1回は、パワーデバイス・イネーブリング協会（PDEA）が活動の一環として主催・推進している「半導体テスト技術者検定」で過去に出題した問題を紹介する（本連載の趣旨はこちら）。問題だけでなく正解と解説を示すので、正答できるかどうかを試していただきたい。仮に正答できなかった場合には、解説を参考に新たな知識として吸収していただきたい。
半導体テスト技術者検定は、半導体の基礎や品質保証、多様な半導体製品群やその試験装置・試験手法などについての知識を問うものだ。広い範囲の知識を必要とする半導体テスト技術者や半導体開発者、そして半導体ユーザーなどを対象に、知識・技術の向上を支援し習熟度を客観的に評価するためのツールとして、PDEAが2014年から実施している。
今回は「故障率」に関する問題を紹介する。半導体デバイスの品質保証の観点から、重要な信頼性指標として不良率と故障率がある。不良率と異なり、故障率には時間の概念が入っている。
下記の問題は、2015年の半導体テスト技術者検定3級（2015年6月21日実施）に出題されたもので、正答率は55%だった。なお、本コラムで紹介する半導体テスト技術者検定の問題では、難易度を★の数で表していく。★は1～5個あり、★の数が多いほど難しくなる。
【問題1】難易度：★★★★
次の文章を読んで（ ）内に入る正しい言葉の組み合わせを(1)～(4)の中から選びなさい。
故障率とは、単位時間内に故障となる半導体デバイスの比率であり、（ ア ）という単位が用いられる。1（ ア ）は、（ イ ）の半導体デバイスが（ ウ ）稼働して故障発生が1個のレベルである。
(1) ア：ppm、 イ：100万個、 ウ：1時間
(2) ア：時間、 イ：10億個、 ウ：1時間
(3) ア：FIT、 イ：100万個、 ウ：1000時間
(4) ア：MTTF、 イ：1万個、 ウ：1万時間
