今回もパワーデバイス・イネーブリング協会（PDEA）が主催する「半導体テスト技術者検定」の過去問題を紹介する（本コラムの詳細はこちら、PDEAについてはこちら、半導体テスト技術者検定の教科書についてはこちら、検定の問題集についてはこちら）。

　本コラムで紹介する半導体テスト技術者検定問題の14問目として出題するのは、デバイスのオープン試験に関する問題である。オープン試験と言っても、もちろん患者に対して情報をオープンにして実施する臨床試験のことではない。デバイスの接続試験の一つであり、デバイスの直流特性を測定するDC特性試験の代表的な試験項目である。

　問題の難易度は★★★★★（本コラムでは紹介する問題の難易度を★の数（難易度に応じて1～5個）で表しており、★の数が多いほど難しい）。検定での正答率40%という相当な難問である。問題をよく読んでじっくりと考えてほしい。

【問題14】難易度：★★★★★

デバイスのDC試験でのオープン試験に関して、以下の中で「誤っているもの」を選びなさい。

(1)　オープン試験はデバイスソケットとデバイスパッケージのピンが正しく接触していることを試験する。

(2)　各信号ピンに一定の電力を入力して、各信号ピンの電位を測定することで、試験を行う。

(3)　デバイスピン内部の保護ダイオードが存在することが確認できればPASSである。

(4)　信号ピンに電圧を加えても電流が流れなければPASSである。