今回の本コラムでは、パワーデバイス・イネーブリング協会（PDEA）が主催する「半導体テスト技術者検定」の過去問題を紹介する（本コラムの詳細はこちら、PDEAについてはこちら、半導体テスト技術者検定の教科書についてはこちら、検定の問題集についてはこちら）。
本稿で紹介するのは、バーンイン（burn-in）である。バーンインと言っても何かを焼き付けるのではない。バーンインは半導体デバイスなどの品質テストの一種であり、初期故障をスクリーニングする上で重要な役割を果たすものである。
今回の問題の難易度は★（本コラムでは紹介する問題の難易度を★の数（難易度に応じて1～5個）で表しており、★の数が多いほど難しい）。簡単な問題だが、うっかりミスをしないよう問題をよく読んでほしい。
【問題11】難易度：★
バーンイン・テストに関する記述として「適切でないもの」はどれか。以下の中から選びなさい。
(1) デバイスの経年変化（寿命）を予測することを目的とする｡
(2) バーンイン・テストにより、デバイスの製品寿命を延ばすことができる｡
(3) デバイスを恒温槽に入れて、温度ストレスを加えながら試験する｡
(4) 信頼性よりテストコストが優先される場合、すべてのデバイスを試験するのではなく、いくつかのサンプルだけを抜き取り、検査を行うことがある｡
