【図2　スキャン・テストの手順】まず，スキャン・モードに設定し，スキャン・イン端子からスキャン・フリップフロップに対してテスト・パターンを設定する（a）。次に，通常動作モードに設定し，スキャン・フリップフロップ間の組み合わせ回路を動作させる。そして，テスト・クロックを動作させて，組み合わせ回路の出力をスキャン・フリップフロップに取り込む（b）。その次に，再びスキャン・モードに設定し，スキャン・フリップフロップに取り込んだ値をスキャン・アウト端子で観測する（c）。なお，この図では，簡単化のために，クロックの接続は省略してある。出典はOKIセミコンダクタ。