【図1　スキャン・テスト回路の構成】マルチプレクサ方式のスキャン・フリップフロップは，マルチプレクサと通常のフリップフロップで構成される（a）。スキャン・イネーブルで通常動作とテスト・モード動作を切り替える。テスト・モード時には，スキャン・フリップフロップをシリアルに接続し，シフト・レジスタを構成する（b）。チップの外部スキャン・イン端子より，このシフト・レジスタの値を設定し，スキャン・アウト端子より値を読み出す。出典はOKIセミコンダクタ。