• BPnet
  • ビジネス
  • IT
  • テクノロジー
  • 医療
  • 建設・不動産
  • TRENDY
  • WOMAN
  • ショッピング
  • 転職
  • ナショジオ
  • 日経電子版

HOMEエレクトロニクス電子デバイスマイクロデバイス用語 > TEG

  • 2000/07/16 16:13
  • 1/1ページ
test element group

 LSIに発生する設計上や製造上の問題を見つけ出すための評価用素子。テスト構造(test structure)とも呼ばれる。

 LSIのプロセス開発,設計,製造などの各種段階で発生する問題点の要因を究明するため,LSIを構成する素子や構造の一部を切り出したり,原因の究明に適した専用の回路を構成することで,早期に原因を究明できるようにする。

【技術者塾】(6/16開催)
実用化迫る、自動運転支援のためのセンシング技術


安全で安心な自動運転車の実現に向けて、運転自動化支援に必要なセンシングアルゴリズムの基礎理論から、自動運転に向けたさまざまな応用技術、最近の話題などについて、分かりやすく解説します。詳細は、こちら
日程 : 2016年6月16日
会場 : 化学会館 7F(東京・御茶ノ水)
主催 : 日経エレクトロニクス

おすすめ