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HOMEエレクトロニクス電子デバイス > IDコピーによるなりすまし排除、製造バラつき使うセキュリティ技術

IDコピーによるなりすまし排除、製造バラつき使うセキュリティ技術

  • 三宅 常之=日経エレクトロニクス
  • 2014/01/17 17:15
  • 1/1ページ
 ルネサス エレクトロニクスは、システムLSIに集積するSRAMの製造バラつきを利用して、チップ固有のIDの不正コピーを困難にする技術を開発した。「第6回 国際カーエレクトロニクス技術展」(2014年1月15日~17日、東京ビッグサイト)で紹介した。なりすましによる不正が難しくなる。

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