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HOMEエレクトロニクス電子デバイス > 【MWE 2013】開発中のGaN MMICをアドバンテストが披露、半導体テスターに搭載へ

【MWE 2013】開発中のGaN MMICをアドバンテストが披露、半導体テスターに搭載へ

  • 小島 郁太郎=Tech-On!編集
  • 2013/11/28 20:02
  • 1/1ページ
アドバンテストは、パシフィコ横浜で開催中の「MWE(Microwave Workshop & Exhibition) 2013」(2013年11月29日まで)の展示会「マイクロウェーブ展」で、開発中のGaN MMICを披露した。同社の半導体テスター、例えば、SoCテスター「T2000」のテスター・モジュールに搭載される予定である。
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