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HOMEエレクトロニクス電子デバイス > 【セミコン2012】次世代NANDフラッシュ向けのテスターをアドバンテストが参考出展、800Mビット/秒以上に対応

【セミコン2012】次世代NANDフラッシュ向けのテスターをアドバンテストが参考出展、800Mビット/秒以上に対応

  • 大石 基之=日経ものづくり
  • 2012/12/06 22:05
  • 1/1ページ
 アドバンテストは、次世代のNANDフラッシュメモリーおよびMCP(multi-chip package)向けに開発中のテスター「ASPEN-1(開発コード名)」を、2012年12月5~7日に千葉県・幕張メッセで開催中の半導体製造関連の展示会「セミコン・ジャパン 2012」で参考出展した。

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