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HOMEエレクトロニクス電子デバイス > 【セミコン2012】アドバンテスト、最大256個のデバイスを同時測定するT2000の新モジュール

【セミコン2012】アドバンテスト、最大256個のデバイスを同時測定するT2000の新モジュール

  • 赤坂 麻実=Tech-On!
  • 2012/11/07 18:03
  • 1/1ページ
 アドバンテストは、モジュール式SoCテスタの「T2000」の新モジュール「Integrated Massive Parallel Test Solution」(IMS)を発表した。
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