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【JIMTOF2012】東京精密、1つの検出器で表面粗さと輪郭形状を測定できる統合測定機を出展

  • 大石 基之=日経ものづくり
  • 2012/11/05 16:45
  • 1/1ページ
 東京精密は、1つの検出器で表面粗さと輪郭形状を測定できる統合測定機「SURFCOM NEX」を「第26回日本国際工作機械見本市(JIMTOF2012)」(2012年11月1~6日開催、東京ビッグサイト)に出展した。表面粗さと輪郭形状の同時解析が求められる自動車部品や小物高精度部品などの測定に向ける。
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