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日立製作所、HSPICEに搭載されたアイパターンの高速推定機能「StatEye」を評価

  • 小島 郁太郎=Tech-On!
  • 2012/09/18 21:00
  • 1/1ページ
日立製作所は、高速信号の品質評価で使うアイパターンの推定技術「StatEye」に関して、「AMS SIG 2012」(2012年9月12日に日本シノプシスが東京で開催)で講演した。登壇したのは、日立の新海剛氏(横浜研究所 回路システム研究部 研究員)である。
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