• BPnet
  • ビジネス
  • PC
  • IT
  • テクノロジー
  • 医療
  • 建設・不動産
  • TRENDY
  • WOMAN
  • ショッピング
  • 転職
  • ナショジオ
  • 日経電子版

HOMEエレクトロニクス電子デバイス > 【セミコン・プレビュー】省/創エネ・デバイス向け検査装置、レーザーテックが3装置を製品化

【セミコン・プレビュー】省/創エネ・デバイス向け検査装置、レーザーテックが3装置を製品化

  • 長廣 恭明=Tech-On!
  • 2011/11/22 14:38
  • 1/1ページ
近年、省エネルギーや創エネルギーへの関心が高まっており、このために窒化ガリウム(GaN)デバイスや炭化シリコン(SiC)デバイス、太陽電池に対する技術開発の加速や量産化、性能向上などに向けた取り組みが急激に進んでいる。これに向けた検査装置3機種を、レーザーテックが製品化した。GaNなどの透明ウエハー向け欠陥検査装置「WASAVIシリーズTROIS33」、SiCウエハー向け欠陥検査装置「WASAVIシリーズSICA6X」、太陽電池向け分光感度分布測定装置「MAPシリーズ SR-MAP」である。前者2装置は「Semicon Japan 2011」に、後者1装置は「PV Japan2011」(いずれも2011年12月7~9日、幕張メッセ)に出展する予定。いずれも2011年12月に受注を開始する。
【技術者塾】(5/17開催)
キャパシタ応用を広げるための基礎と活用のための周辺技術


省エネルギー社会に則した機器を、キャパシタを上手に活用しながら開発するために、その原理と特長、信頼性、長寿命化、高密度化、高出力化などのセル開発の進歩とキャパシタの持つ課題と対応技術まで、実践活用に役立つ応用事例を示しながら学んでいきます。 詳細は、こちら
日程 : 2016年5月17日
会場 : BIZ新宿
主催 : 日経エレクトロニクス

おすすめ