東京大学 大学院工学系研究科 電気系工学専攻 准教授の竹内健氏の研究グループとSIGLEAD社は共同で，NANDフラッシュ・メモリに書き込むデータのパターンをコントローラ回路で変調することによって，SSDの動作信頼性を95％高め，書き込み電力を43％削減する技術を開発した（講演番号11.4）。4X～3Xnm世代のNANDフラッシュ・メモリで構成したSSDに，このコントローラ回路をFPGAとして実装し，その効果を実証している。多値（MLC：multi-level cell）技術を用いた大容量のNANDフラッシュ・メモリを搭載したSSDの，信頼性や動作速度の向上につながる成果である。
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