【VLSI】東芝などが「3次元FPGA」を開発,SRAMをTFT技術で論理回路の上に積んでチップ面積を半減
東芝は,コバレントマテリアル,米Tier Logic Inc.,tei Technologyと共同で, CMOS論理回路の上にアモルファスSi TFT技術によるSRAMを3次元積層することで実現した,いわゆる「3次元FPGA」(3D FPGA)を半導体製造技術関連の国際会議「2010 Symposium on VLSI Technology」で発表した(論文番号21.1)。
既存のFPGAは,ユーザー・ロジック用論理回路とコンフィギュレーション用SRAMを2次元的に並べた構成を採る。3D-FPGAは,このうち,コンフィギュレーションSRAMをアモルファスSi TFT技術で形成し,ユーザー・ロジック用論理回路を形成した9層Cu配線のCMOSチップの上に積層する。これにより,FPGAのチップ面積を既存品の半分程度に縮小できるという。「半導体製造技術の世代を2世代ほど進めたのと同じコスト削減効果を期待できる」(東芝)とする。
3D FPGAを利用することで,機器メーカーは,LSIの設計を変更せずにセルベースLSIに移行できるという。3D FPGAを使って機器の試作を行い,設計が固まったら,この3D FPGAのうち,コンフィギュレーション用SRAMが形成されたアモルファス Si TFTの部分のみをマスクROMに置き換えることで,再設計なしにセルベースLSIが得られる仕組みだ。
今回,東芝などは,90nm世代の9層Cu配線技術を利用した下地層の上に,アモルファス Si TFT技術に基づく26MビットSRAMを積んだチップを試作した。今回の試作チップでは下地層に90nm世代のCMOS技術を利用したが,「既に40nm世代に微細化することが可能との見通しを得ている」(東芝)という。
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