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【EDSF 2010】2カ所目の海外オフィスを台湾に開設,国内EDAベンダーのTOOLに聞く

2010/01/28 22:35
小島 郁太郎=Tech-On!
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ブースに立つ本垰秀昭氏 Tech-On!が撮影。
ブースに立つ本垰秀昭氏 Tech-On!が撮影。
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「エラー結果をマスク・レイアウト・データに直接表示する」機能 TOOLのデータ。
「エラー結果をマスク・レイアウト・データに直接表示する」機能 TOOLのデータ。
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 パシフィコ横浜で開催中の「EDS Fair 2010(Electronic Design and Solution Fair 2010)」に出展した,国内EDAベンダーのTOOLに話を聞いた。同社はLSIのマスク・レイアウト・ビューワである「LAVIS」などを開発・販売する。

 同社はEDSF 2010の直前に,台湾のオフィスの開設を発表した(ニュース・リリース)。同社にとっては,2008年に開設した米国カリフォルニア州San Joseのオフィスに次ぐ,2カ所目のオフィスになる(Tech-On!関連記事)。台湾のオフィスでは,「まずは,営業活動よりもサポートの現地化に注力する」(代表取締役社長の本垰秀昭氏)という。

 同氏によれば,海外の国や地域でユーザー数が一番大きいのが米国の10数社,そして2番目が台湾の5〜6社である。この意味では,米国の次は台湾というのは,自然な流れと言える。開設の際に台湾を訪れた同氏に,台湾の半導体産業の現況について聞いてみた。「台湾の企業は動きが速い。財布の紐を締めるのも早かったが,緩めるのも早い。もう景気はかなり回復しているという印象だった」(本垰氏)。

SEM画像などの重ね合わせが容易に

 さらに,本垰氏は,近く発表予定の「LAVIS Ver.9.2」で追加される機能についても語った。今回,説明があったのは,二つの新機能である。一つ目は,「エラー結果をマスク・レイアウト・データに直接表示する」機能。従来は,エラー結果とマスク・レイアウト・データは別々のウインドウに表示されていた。

 両ウインドウは連動していたとは言え,ユーザーは両方のウインドウをにらみながら,マスク・レイアウト・データ上のエラー個所を見い出す必要があった。今回はエラー個所のリストが出るので,それをクリックすると,当該エラーがマスク・レイアウト上に表示されて,すぐに確認できる。

 二つ目は「DEFのスペシャル・ネットのハイライト表示」機能である。これまでは,レギュラー・ネットはハイライト表示が可能だったが,スペシャル・ネットは通常の表示しかできなかった。今回の機能向上で,電源/設置やクロック・ネットなどの大規模ネット,幅が途中で変わるネット(パターン)といったスペシャル・ネットも,ハイライト表示させることが可能になり,これらのチェックが容易になった。

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