【IEDM】NECエレ,ランダム・テレグラフ・ノイズの分析で新手法,トラップの分布を推測

図8●バイアス電圧を変えると見えるトラップが変化 NECエレのデータ。

図8●バイアス電圧を変えると見えるトラップが変化 NECエレのデータ。

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