伊仏STMicro，米AtrentaのメモリーBIST自動挿入ツールを社内およびASIC顧客向けにサポート
米Atrenta Inc.は，同社のメモリーBIST（built-in self test）回路挿入ツールの「SpyGlass-MBIST」を伊仏合弁STMicroelectronics社が採用したと発表した（ニュース・リリース）。STMicroは世界中の社内の設計者およびASIC顧客向けの上流設計キットの一部として，同ツールをサポートする。
SpyGlass-MBISTはRTLとゲート・レベルでBIST回路を自動挿入するEDAツールである。同ツールは，設計に含まれる一般的なメモリーをBISTメモリーに置き換える。必要に応じて，リペア向けの回路も一緒に挿入することができる。Atrentaによれば，任意のBIST方式に，今回のツールは対応するという。
今回，STとAtrentaは戦略的に協調して，SpyGlass-MBISTをSTMicroの65nm，45nm，32nm設計で使えるようにした。これらのプロセス世代の設計で，メモリーBIST回路およびリペア回路の自動挿入が可能になるという。
ニュース・リリースには，STMicroのFrederic Grandvaux氏（Memory Test Solutions manager within Central CAD & Design Solutions）とAngelo Oldani氏（design director for the Communication Infrastructure Division）のコメントが紹介されている。
「われわれ独自の埋め込みテストおよびリペア技術をRTLで自動適用することが， SpyGlass-MBISTで可能になった。これで同技術の適用が効率化しただけではなく，RTLでのタイミング設計の確度が増した。メモリーBIST込みのRTL設計データが得られるようになったからだ」（Grandvaux氏）。
「われわれは，SpyGlass-MBISTを使ってMBISTを挿入する設計を三つ進めている。多数のメモリー・ブロックを含む設計が増えてきたことで，この自動化ツールの必要性は高まってきた」（Oldani氏）。
