【ISSCC】富士通研ら,低コストでLSI内の電源変動をリアルタイムに観測する技術を開発

  • 小島 郁太郎=日経マイクロデバイス
  • 2007/02/14 21:30
 富士通研究所は,エイアールテックの協力を得て,LSI内の電源変動を観測するための新技術を開発したと発表した。従来手法よりも低コストでリアルタイムに電源変動を観測可能なことが特徴である。